🔬 LTU 新型先进 X 射线断层扫描仪助力材料研究

吕勒奥理工大学启用瑞典独有的动态光谱 X 射线断层扫描仪，可无损追踪材料内部快速变化并分析三维成分，穿透更大样品，与现有高分辨率设备互补，面向产学研开放。

吕勒奥理工大学启用了一台用于三维材料分析的先进设备——动态光谱 X 射线断层扫描仪 TESCAN UniTOM XL Spectral，据称该设备在瑞典独一无二，可同时研究材料内部结构及其在持续过程中的变化。设备安装在 LUMIA（吕勒奥材料成像与分析）研究基础设施，由 WISE（瓦伦堡材料科学可持续发展计划）资助。

该设备融合动态、光谱和高能 X 射线断层扫描三种能力。动态技术使 X 射线扫描可在 5 秒内完成，研究人员因此能追踪材料内部在工艺进行中的快速变化，例如让材料接触气体或高温，同时观察其内部结构随时间的变化，且无需破坏样品。光谱技术则支持在三维空间分析材料成分；高 X 射线能量使其能穿透更大、更难穿透的物体。

系统长约 3.5 米，重约 7 吨，可容纳高达 1 米的样品。新设备与 LUMIA 已有的高分辨率 X 射线断层扫描形成互补。该研究基础设施面向学术界、研究机构和工业界开放，并将加强与 MAX IV 研究设施的合作。